测试治具属于治具下面的一个类别，江门fct测试治具厂，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。因其主要在生产线上用于产品的各项指标的测试，所以叫测试治具。
项目测试类治具则包括寿命测试类治具、包装测试类治具、环境测试类治具、光学测试类治具、屏蔽测试类治具、隔音测试类治具等等；线路板测试类治具主要包括ICT测试治具、FCT功能治具、SMT过炉治具、BGA测试治具等等。
选用探针主要是根据线路板（PCB ）板的中心距和被测点的形状而定的，珠海fct测试治具厂， PCB板上所要测试的点与点之间越近，东莞fct测试治具厂，选用探针的外径也就越细。目前国产的探针质量普通的都可以，目前不少所谓的台湾探针其实是国产贴牌而已，fct测试治具厂，一般超过0.31含0.31毫米的探针国产都过关，一般的测试次数都可以保证在20万次到15万次左右。
东莞市钺海电子科技有限公司成立于2018年8月，是一家致力于专业设计制作治具的公司，产品含盖：SMT印刷、贴片、回流焊治具；FPC治具；波峰焊治具；测试治具；各类工装夹具；非标自动化治具和设备。
测试治具的区别，CP和FT的不同点并不只是限于所在的工序期间不同，两者在效率和功用笼盖上都有着明显的区别，这些信息是每一个IC从业职工需求根本了解的。
那这样一来，咱们还需不需求CP测试?或许在CP测试期间怎么对具体测试项目进行取舍呢?要回答这个题目，咱们就必需对CP的意图有深入的了解.那CP的意图究竟是啥呢?
当然，理论上在CP期间也能够进行高速信号和高精度信号的测试，但这一般需求采用专业的高速探针计划，如笔直针/MEMS探针等技能，这会大大增加硬件的本钱.多数情况下，这在经济视点上来说是分歧算的。
按照国际惯例，首要需求再解释一下啥是CP和FT测试.CP是(Chip Probe)的缩写，指的是芯片在wafer的期间，就经过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行机能及功用测试，有时候这道工序也被称作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的缩写，指的是芯片在封装完结今后进行的测试，只要经过测试的芯片才会被出货。
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