测试治具的探针主要有哪几种?
通常ICT测试治具的探针有很多的规格，针主要是由三个部份组成：一是针管，主要是以铜合金为材料外面镀金;二是弹簧，测试治具厂，主要琴钢线和弹簧钢外面镀金;三是针头，主要是工具钢(SK)镀镍或者镀金，以上三个部分组装成一种探针。
ICT测试治具的探针主要有哪几种就分享到这里，另外不同形式的封装选择的探针规格也是不同的，所以为了保证探针是符合需求的，需要认证选配符合需求的探针的型号，保证测试的顺利完成。探针在IC测试中非常重要的一个部件，测试治具，所以在选用和购买探针的时候要多加注意，才能保证后测试的完美进行。
测试治具的区别，CP和FT的不同点并不只是限于所在的工序期间不同，测试治具定制，两者在效率和功用笼盖上都有着明显的区别，测试治具厂家，这些信息是每一个IC从业职工需求根本了解的。
那这样一来，咱们还需不需求CP测试?或许在CP测试期间怎么对具体测试项目进行取舍呢?要回答这个题目，咱们就必需对CP的意图有深入的了解.那CP的意图究竟是啥呢?
当然，理论上在CP期间也能够进行高速信号和高精度信号的测试，但这一般需求采用专业的高速探针计划，如笔直针/MEMS探针等技能，这会大大增加硬件的本钱.多数情况下，这在经济视点上来说是分歧算的。
按照国际惯例，首要需求再解释一下啥是CP和FT测试.CP是(Chip Probe)的缩写，指的是芯片在wafer的期间，就经过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行机能及功用测试，有时候这道工序也被称作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的缩写，指的是芯片在封装完结今后进行的测试，只要经过测试的芯片才会被出货。
测试架卖点描述，采用快速夹手机械下压，操作方便；结构材料可根据需要采用进口压克力、电木板、玻纤板等，还可以选择固型框架（可重复使用，只需依实际需要更换针盘）；可双面植针，上下模使用进口直线轴承定位，定位精、耐用；可将各种产品附件放置于治具内部，外表整齐，方便置放于生产线上，底部可掀开，便于维护；广泛应用于VCD、DVD、CD－ROM、DVD－ROM等产品及板幅较小的板卡。
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