测试治具 ICT测试治具即InCircuitest测试治具的缩写，就是在线检测、测试治具。是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。它主要用于检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，测试治具，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点，测试治具订制，ICT测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，对每种单板需制作专用的针床，这个针床在工业生产上就叫它ICT测试治具。
测试治具的区别，CP和FT的不同点并不只是限于所在的工序期间不同，两者在效率和功用笼盖上都有着明显的区别，这些信息是每一个IC从业职工需求根本了解的。
那这样一来，咱们还需不需求CP测试?或许在CP测试期间怎么对具体测试项目进行取舍呢?要回答这个题目，咱们就必需对CP的意图有深入的了解.那CP的意图究竟是啥呢?
当然，理论上在CP期间也能够进行高速信号和高精度信号的测试，但这一般需求采用专业的高速探针计划，如笔直针/MEMS探针等技能，这会大大增加硬件的本钱.多数情况下，这在经济视点上来说是分歧算的。
按照国际惯例，首要需求再解释一下啥是CP和FT测试.CP是(Chip Probe)的缩写，指的是芯片在wafer的期间，就经过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行机能及功用测试，有时候这道工序也被称作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的缩写，指的是芯片在封装完结今后进行的测试，只要经过测试的芯片才会被出货。
一种检测用治具，测试治具厂家，用于固定待测电池的电路板端子的摆放位置，其包括:一底座，所述底座的上表面设置一边开口的凹槽，测试治具定做，所述凹槽的边框形状与待测电池的电芯外框形状相同，凹槽包括左右对称设置的侧边部、侧边部以及挡板部，所述挡板部开设有方形槽，所述方形槽的边框形状与待测电池的电路板端子外框形状相同，方形槽中底部设置有磁铁。
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